本ISO 26262培训课程目标旨在向半导体供应商，数字及模拟器件供应商，传感器供应商，半导体Design House，半导体代理商等专业业内专业人士，设计开发人员，功能安全工程师，功能安全经理等岗位人员，提供半导体ISO26262功能安全培训，协助企业快速理解半导体ISO26262功能安全技术要求。
课程大纲：
ISO 26262培训 - 半导体器件 I 基础失效率
• 如何考量半导体元件功能安全
• 半导体器件功能安全开发
• 半导体器件元件分解
• 半导体器件故障模式
• 半导体器件失效模式
• 不同失效模式下的失效率分布
半导体器件基础失效率计算
• 半导体器件基础失效率计算
• 半导体器件基础失效率计算注意事项
• 半导体器件永久失效率计算方法
ISO 26262培训 - DFA关联失效分析 I FIT故障注入
• 半导体器件关联失效分析(DFA)介绍
• 半导体器件关联失效工况分析
• 半导体器件级联失效和共因失效
• 半导体器件关联失效源分析
• 半导体器件功能安全设计策略
• 半导体器件关联失效分析示例
• 软件和硬件间的关联失效
半导体功能安全故障注入
• 半导体器件故障注入的特征或变量
• 半导体器件故障注入结果
• 半导体器件量产中的功能安全要求
ISO 26262培训 - 数字器件 I 模拟器件 I PLD器件
数字器件与存储器
• 数字器件失效模式
• 数字器件故障模式分析
• 存储器件失效模式分析
• 数字器件剩余故障失效率
• 数字器件定量分析
• 数字器件故障注入仿真验证
• 数字器件的安全文档
• 数字器件及存储器的安全机制
• 数字器件及存储器的技术概要
模拟信号器件
• 模拟信号器件和失效模式
• 模拟信号器件安全分析
• 模拟信号器件安全机制
• 模拟信号器件开发阶段系统性故障
PLD可编程逻辑器件
• PLD可编程逻辑器件失效模式
• PLD可编程逻辑器件安全分析
• PLD可编程逻辑器件安全机制
ISO 26262培训 - IP核 I 多核 I 传感器
IP核
• IP核功能安全生命周期
• IP核功能安全交付物
• IP核功能安全集成
多核半导体组件
• 多核半导体组件类别
• 符合ISO 26262的多核半导体组件
传感器&变送器
• 传感器&变送器
• 传感器失效模式
• 传感器安全分析
• 传感器安全措施示例
• 传感器开发阶段系统性故障
• 传感器&变送器功能安全文档
PLD可编程逻辑器件
• PLD避免可编程逻辑器件系统故障
• PLD可编程逻辑器件安全文档
• PLD可编程逻辑器件安全分析